一、什么是鹽霧試驗(yàn)
鹽霧是常見的一種大氣腐蝕,存在自然環(huán)境中,腐蝕破壞性相對(duì)較強(qiáng)。鹽霧中含有大量的氯離子,會(huì)直接穿透金屬材料的表面,氧化及防護(hù)層都無法阻隔氯離子,在穿越材料表面以后,就會(huì)與金屬發(fā)生電化學(xué)反應(yīng),對(duì)材料造成巨大的破壞,表面腐蝕的同時(shí)還會(huì)改變?cè)行阅?,長(zhǎng)時(shí)間腐蝕后還會(huì)通過空隙及裂縫投入產(chǎn)品內(nèi)部,進(jìn)一步腐蝕。它是一種主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗(yàn)類型之一。
二、鹽霧試驗(yàn)的腐蝕原理是什么
鹽霧腐蝕的原理金屬材料大多數(shù)的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中,大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。鹽霧腐蝕就是一種常見和最有破壞性的大氣腐蝕。
鹽霧對(duì)金屬材料的腐蝕,主要是導(dǎo)電的鹽溶液滲入金屬內(nèi)部發(fā)生電化學(xué)反應(yīng),形成“低電位金屬—電解質(zhì)溶液一高電位雜質(zhì)”微電池系統(tǒng),發(fā)生電子轉(zhuǎn)移,作為陽極的金屬出現(xiàn)溶解,形成新的化合物即腐蝕物。鹽霧腐蝕破壞過程中起主要作用的是氯離子,它具有很強(qiáng)的穿透本領(lǐng),容易穿透金屬氧化層進(jìn)入金屬內(nèi)部,破壞金屬的鈍態(tài);同時(shí),氯離子具有很小的水合能,容易被吸附在金屬表面,取代保護(hù)金屬的氧化層中的氧,使金屬受到破壞
三、鹽霧試驗(yàn)的分類及試驗(yàn)方法
人工模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)是利用一種具有一定容積空間的試驗(yàn)設(shè)備——鹽霧試驗(yàn)箱,與天然環(huán)境相比,其鹽霧環(huán)境的氯化物的鹽濃度,可以是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍,使腐蝕速度大大提高,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗(yàn),得出結(jié)果的時(shí)間也大大縮短。
中性鹽霧試驗(yàn)(NSS試驗(yàn)):是出現(xiàn)最早目前應(yīng)用領(lǐng)域最廣的一種加速腐蝕試驗(yàn)方法。它采用5%的氯化鈉鹽水溶液,溶液PH值調(diào)在中性范圍(6~7)作為噴霧用的溶液。試驗(yàn)溫度均取35℃,要求鹽霧的沉降率在1~2ml/80cm2.h之間。
乙酸鹽霧試驗(yàn)(ASS試驗(yàn)):是在中性鹽霧試驗(yàn)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。它是在5%氯化鈉溶液中加入一些冰醋酸,使溶液的PH值降為3左右,溶液變成酸性,最后形成的鹽霧也由中性鹽霧變成酸性。它的腐蝕速度要比NSS試驗(yàn)快3倍左右。
銅鹽加速醋酸鹽霧試驗(yàn)(CASS試驗(yàn)):是國(guó)外新近發(fā)展起來的一種快速鹽霧腐蝕試驗(yàn),試驗(yàn)溫度為50℃,鹽溶液中加入少量銅鹽—氯化銅,強(qiáng)烈誘發(fā)腐蝕。它的腐蝕速度大約是NSS試驗(yàn)的 8倍。
四、鹽霧試驗(yàn)1h相當(dāng)于自然環(huán)境下多少時(shí)間
在天然環(huán)境下對(duì)某產(chǎn)品樣品進(jìn)行試驗(yàn),腐蝕時(shí)間可能需要一年甚至數(shù)年,而在人工模擬鹽霧環(huán)境條件下試驗(yàn),只要數(shù)天甚至是數(shù)小時(shí),即可得到相似的結(jié)果。那么鹽霧試驗(yàn)與自然環(huán)境下的腐蝕對(duì)比,大概是什么樣的關(guān)系呢,鹽霧試驗(yàn)1h相當(dāng)于自然環(huán)境下相當(dāng)于多少時(shí)間呢?
它們之間大概的時(shí)間換算關(guān)系為:(僅供參考)
中性鹽霧試驗(yàn)24h ? 自然環(huán)境1年
醋酸鹽霧試驗(yàn)24h ? 自然環(huán)境3年
銅鹽加速醋酸鹽霧試驗(yàn)24h ? 自然環(huán)境8年
鹽霧試驗(yàn)結(jié)果判定
1)物理部分。鹽沉積能引起機(jī)械部件或組件的阻塞或粘接。本試驗(yàn)產(chǎn)生的任何鹽沉積可能代表預(yù)期環(huán)境所導(dǎo)致的結(jié)果。
2)電氣部分。24h的干燥階段后,殘留的潮氣會(huì)導(dǎo)致電性能故障。應(yīng)考慮將這種故障與實(shí)際使用中的故障聯(lián)系起來。
3)腐蝕部分。從短期和潛在的長(zhǎng)期影響角度,分析腐蝕對(duì)試件正常功能和結(jié)構(gòu)完整性的影響。
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