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異物分析測試方法,異物分析,專門針對產品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物的分析技術。例如對表面嵌入或析出的顆粒物、小分子遷移物、斑點、油狀物、霧狀物、橡膠噴霜等異常物質進行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產品最常用的分析方法之一。
當材料及零部件表面出現(xiàn)未知物質,不能確定其成分及來源時,可以通過對異物進行微觀形貌觀察和成分分析進行判斷。
測試方法:異物分析主要涉及三個方面,一是異物的有機物結構分析,主要用紅外顯微鏡-FTIR;二是異物或材料表面的元素成分分析,主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)、多功能光電子能譜儀(XPS)、能量色散型微區(qū)X 射線熒光光譜儀(μEDX)等;三是表面觀察,主要用光學顯微鏡(OM)和電子顯微鏡(比如SEM)。應用范圍:廣泛應用于化工產品、航空產品及其零部件、汽車產品及其零部件、LCM系列產品、PCB&PCBA、電子元件及半導體產品等。
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